X射線衍射是利用X射線在晶體中的衍射現(xiàn)象來獲得衍射后X射線信號(hào)特征,經(jīng)過處理得到衍射圖譜。利用譜圖信息不僅可以實(shí)現(xiàn)常規(guī)顯微鏡的確定物相,并擁有“透視眼”來看晶體內(nèi)部是否存在缺陷(位錯(cuò))和晶格缺陷等。
X射線衍射作為一電磁波投射到晶體中時(shí),會(huì)受到晶體中原子的散射,而散射波就像從原子中心發(fā)出,每個(gè)原子中心發(fā)出的散射波類似于源球面波。由于原子在晶體中是周期排列的,這些散射球波之間存在固定的相位關(guān)系,會(huì)導(dǎo)致在某些散射方向的球面波相互加強(qiáng),而在某些方向上相互抵消,從而出現(xiàn)衍射現(xiàn)象。
X射線衍射儀基本構(gòu)成:
?。?)高穩(wěn)定度X射線源提供測(cè)量所需的X射線,改變X射線管陽極靶材質(zhì)可改變X射線的波長(zhǎng),調(diào)節(jié)陽極電壓可控制X射線源的強(qiáng)度。
?。?)樣品及樣品位置取向的調(diào)整機(jī)構(gòu)系統(tǒng)樣品須是單晶、粉末、多晶或微晶的固體塊。
?。?)射線檢測(cè)器檢測(cè)衍射強(qiáng)度或同時(shí)檢測(cè)衍射方向,通過儀器測(cè)量記錄系統(tǒng)或計(jì)算機(jī)處理系統(tǒng)可以得到多晶衍射圖譜數(shù)據(jù)。
?。?)衍射圖的處理分析系統(tǒng)現(xiàn)代X射線衍射儀都附帶安裝有衍射圖處理分析軟件的計(jì)算機(jī)系統(tǒng),它們的特點(diǎn)是自動(dòng)化和智能化。
X射線衍射儀可為客戶解決的問題:
(1)當(dāng)材料由多種結(jié)晶成分組成,需區(qū)分各成分所占比例,可使用XRD物相鑒定功能,分析各結(jié)晶相的比例。
?。?)很多材料的性能由結(jié)晶程度決定,可使用XRD結(jié)晶度分析,確定材料的結(jié)晶程度。
(3)新材料開發(fā)需要充分了解材料的晶格參數(shù),使用XRD可快捷測(cè)試出點(diǎn)陣參數(shù),為新材料開發(fā)應(yīng)用提供性能驗(yàn)證指標(biāo)。
?。?)產(chǎn)品在使用過程中出現(xiàn)斷裂、變形等失效現(xiàn)象,可能涉及微觀應(yīng)力方面影響,使用XRD可以快捷測(cè)定微觀應(yīng)力。
?。?)納米材料由于顆粒細(xì)小,極易形成團(tuán)粒,采用通常的粒度分析儀往往會(huì)給出錯(cuò)誤的數(shù)據(jù)。采用X射線衍射線線寬法可以測(cè)定納米粒子的平均粒徑。